OTSUKA大塚電子
品牌：OTSUKA大塚
日本官網(wǎng)：https://www.otsukael.jp
醫(yī)用儀器：
二氧化碳碳同位素比分析裝置
紅外光譜分析儀POCONE,
血球細(xì)胞消除儀MM6-N，
分立的方式臨床化學(xué)自動(dòng)分析儀NS-Prime，
熒光**層析讀取器DiaScan α，
分析儀器：
厚型粒度分析儀FPAR-1000，F(xiàn)PAR-1000AS，
膜厚儀：FPAR-1000，F(xiàn)PAR-1000AS，

反射分光膜厚儀：FE-3000,FE-3000L,FE-3700,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
手動(dòng)和自動(dòng)可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5000,

自動(dòng)可切換的橢圓偏光膜厚儀,FE-5300,FE-5500,FE-5600,FE-5700,
手動(dòng)橢圓偏光膜厚儀,FE-5000S,
內(nèi)置式膜厚監(jiān)控器,FE-3,
半導(dǎo)體晶片厚度檢測儀,SF-450M,
TSV晶圓厚度測試儀,SF-3000M,
光譜干涉硅片測厚儀,SF-3,

光譜儀
瞬間多通道測光系統(tǒng)：MCPD-9800,MCPD-7700,MCPD-6800,MCPD-3700,

分光膜厚計(jì)
反射分光膜厚儀：FE-3000,FE-300V,FE-300UV,FE-300NIR x1,
橢圓偏光膜厚儀(自動(dòng))：FE-5000,
橢圓偏光膜厚儀(手動(dòng))：FE-5000S,
內(nèi)置式膜厚監(jiān)控器：FE-3,
半導(dǎo)體晶片厚度檢測儀：SF-450M,
TSV晶圓厚度測試儀：SF-3000M,
光譜干涉硅片測厚儀：SF-3,
TSV形狀檢測裝置：TS-3000,


LED光源評價(jià)儀：
積分半球：HM-1030,
積分半球：HM-1050,
掃描型光通量量測裝置：HM-9050L,
積分球：FM9300,
CIE平均化LED光度量測系統(tǒng)：AL-1000,
配光量測系統(tǒng)：GP-1000,
快速光分布測量系統(tǒng)：GP-7,
量子效率量測系統(tǒng)：QE-2000,
熒光膜檢測系統(tǒng)（傳輸熒光測量系統(tǒng)）：DF-1000A,
FPD相關(guān)的檢查和評價(jià)設(shè)備 液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測：LCD-7200,
液晶顯示器(LCD)面板、模組檢測：LCD-5200,


超高對比檢測儀：GC-1,
高感度分光放射輝度計(jì)：HS-1000,



FPD相關(guān)的檢查和評價(jià)設(shè)備：
動(dòng)態(tài)畫面反應(yīng)時(shí)間檢測儀：MPRT-2000,
動(dòng)態(tài)畫面清晰度檢測儀：MR-2000,
相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備：RETS-100,
低相位差高速檢測設(shè)備：RE-100,

OTSUKA平面顯示器(FPD)光電特性檢測,
OTSUKA液晶層間隙(Cell gap)量測設(shè)備,
OTSUKA彩色濾光片色度檢查機(jī),
OTSUKA平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專,
OTSUKA大塚OLED元件光電特性檢測設(shè)備,

Zeta電位,粒度測量系統(tǒng)：ELSZ-1000ZS,
zeta電位的測量系統(tǒng)：ELSZ-1000Z,
粒度測量系統(tǒng)：ELSZ-1000S,
流動(dòng)式圖像分析粒子直徑、形狀測試裝置：Particle Insight,
粒徑測定系統(tǒng)：ELSZ-2,
電位測定系統(tǒng)：ELSZ-1,
厚型粒度分析儀：FPAR-1000AS,
厚型粒度分析儀：FPAR-1000,



光散射光度計(jì)：
動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì)：DLS-8000HL,DLS-8000HH,DLS-8000DL,DLS-8000DH,DLS-6500HL,DLS-6500SL,
靜態(tài)光散射光度計(jì)：LS-6500HL,
光纖的動(dòng)態(tài)光散射光度計(jì)：FDLS-3000,
連續(xù)角度光散射光度計(jì)：CALLS-1000,
聚合物薄膜動(dòng)力學(xué)分析儀：DYNA-3000,
高感度示差屈折計(jì)：DRM-3000,