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    產(chǎn)品詳情
    • 產(chǎn)品名稱:重慶 膜厚計?関連測定器 SWT系列專用探頭 SANKO山高 Fe-20

    • 產(chǎn)品型號:Fe-20
    • 產(chǎn)品廠商:SANKO山高
    • 產(chǎn)品價格:0
    • 折扣價格:0
    • 產(chǎn)品文檔:
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    簡單介紹:
    重慶 膜厚計?関連測定器 SWT系列專用探頭 SANKO山高 Fe-20 重慶 膜厚計?関連測定器 SWT系列專用探頭 SANKO山高 Fe-20 TEL:18375670285 QQ:2853007784 白先生
    詳情介紹:


    SWT系列專用探頭選項
    用探針兼容和本體的自由組合連接可能。
    根據(jù)測量對象,連接鐵質(zhì)地(電磁式)或有色金屬質(zhì)地(渦電流)。
    ◆微片條等的測量適合的高穩(wěn)定性探頭等,用途和測量范圍更探頭可供選擇。

    ■プローブ(別売)電磁誘導式
    型式 Fe-2.5※
    /Fe-2.5L
    Fe-2.5LwA Fe-0.6Pen Fe-10 Fe-20
    測定方式 電磁誘導式
    測定範囲 0~2.50mm 0~600μm 0~10mm 0~20mm
    表示分解能 1μm:
    0~999μm
    切替により
    0.1μm:
    0~400μm
    0.5μm:
    400~500μm
    0.01mm:
    1.00~2.50mm
    1μm:
    0~600μm
    切り替えにより
    0.1μm:
    0~400μm、
    0.5μm:401~500μm
    1μm:
    0~999μm
    0.01mm:
    1~10mm
    1μm:
    0~999μm
    0.01mm:
    1~5mm
    0.1mm:
    5~20mm
    測定精度
    (平滑面に
    対して)
    0~100μm:±1μm
    または指示値の±2%以內(nèi)
    101μm~2.50mm:±2%以內(nèi)
    0~100μm:±1μm
    または指示値の±2%以內(nèi)
    101μm~600μm:指示値の±2%以內(nèi)
    0~3mm:±(5μm+指示値の3%)
    3.01mm以上:±3%以內(nèi)
    プローブ 1點定圧接觸式、Vカット付
    2.5:φ15×47mm
    2.5L:18X22X58mm
    1點定圧接觸式
    測定部:約24×27X56mm
    全長約550~1,540mm(伸縮式)
    1點定圧接觸式、Vカット付
    φ5.6×94mm
    1點定圧接觸式、Vカット付
    φ18×47mm
    1點定圧接觸式、Vカット付
    φ35×59mm
    オプション※2 V型プローブアダプタ/--- --- --- --- ---
    付屬品 標準厚板
    テスト用ゼロ板(鉄用)
    標準厚板
    テスト用ゼロ板(鉄用)
    収納ケース
    標準厚板
    テスト用ゼロ板(鉄用)
    測定対象 鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニング、溶射膜、メッキ(電解ニッケルメッキを除く)など 鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニングなど手の屆かない所、離れた所の塗膜厚測定用 鉄?鋼などの磁性金屬素地上の塗裝、ライニングなど狹い箇所、小さい部位の塗膜厚測定用 比較的厚物の測定物用 厚物の測定物用
    ※探針是耐熱用(約200℃)。詳細請咨詢。
    ※2選項:V型探針適配器(3種:φ5以下,5~10~10~20用)
    ■探針(另售)渦流式

    型式 NFe-2.0※/NFe-2.0L NFe-0.6 NFe-8
    測定方式 渦電流式
    測定範囲 0~2.00mm 0~0.6mm 0~8mm
    表示分解能 1μm:
    0~999μm
    切替により
    0.1μm:
    0~400μm
    0.5μm:
    400~500μm
    0.01mm:
    1.00~2.00mm
    1μm:
    0~600μm
    切替により
    0.1μm:
    0~400μm
    0.5μm:
    400~500μm
    1μm:
    0~999μm
    0.01mm:
    1~8mm
    測定精度
    (平滑面に
    対して)
    0~100μm:±1μm
    または指示値の±2%以內(nèi)
    101μm~2.00mm:±2%以內(nèi)
    0~100μm:±1μm
    または指示値の±2%以內(nèi)
    101μm~600μm:±2%以內(nèi)
    0~3mm:±(5μm+指示値の3%)
    3..01mm以上:指示値の±3%以內(nèi)
    プローブ 1點定圧接觸式、Vカット付
    2.0:φ15×47mm
    2.0L:18X22X57mm
    1點定圧接觸式、Vカット付
    φ13×48mm
    1點定圧接觸式、Vカット付
    φ35×61mm
    オプション※2 V型プローブアダプタ/--- --- ---
    付屬品 標準厚板
    テスト用ゼロ板(非鉄用)
    測定対象 アルミ、銅などの非磁性金屬素地上の絶縁性皮膜など
    比較的汎用な測定物用 細い丸棒、細管、微小片等での高安定性用 比較的厚物の測定物用
    ※探針是耐熱用(約200℃)。詳細請咨詢。
    ※2選項:V型探針適配器(3種:φ5以下,5~10~10~20用)


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