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  • 產品詳情
    • 產品名稱:廠家直銷 KOBRA-WR 相位差測量裝置 OSI王子計測

    • 產品型號:KOBRA-WR
    • 產品廠商:OSI王子計測
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    簡單介紹:
    相位差測定裝置 KOBRA系列 從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。 廠家直銷 KOBRA-WR 相位差測量裝置 OSI王子計測 KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的*大方向)。 廠家直銷 KOBRA-WR 相位差測量裝置 OSI王子計測
    詳情介紹:
    相位差測定裝置
    KOBRA系列
    從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。
    KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的方向)。

    1.測量范圍寬···1nm?2· 
    高重復性··±1nm· 
    優異的操作性
    4。實現軟件



    KOBRA-WR

     

    測量方法

    平行尼科爾旋轉方法

    測量波長

    450,500550,590,630,750nm

    標本

    切樣本

    測量目標

    延遲板

    樣本大小

    垂直入射角度測定:30mm見方以上
    入射角度依存性:30mm?40×50mmt3mm以下

    測量區域

    33毫米25.8毫米角:Jukoko面積)

    軟件名稱

    KOBRA-RE

    測量項目

    相差
    定向角
    三維折射率
    Rth
     
    面內延遲測量
    入射角依賴
    波長色散特性

    設備配置

    測量儀器主體光源裝置
    計算機顯示器打印機

    身體尺寸

    W 501×D 830×H 700mm

    體重

    大約70公斤

    安裝尺寸

    W1500×D 900毫米


    中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

    測量對象: ■延遲膜,Placel,偏光板
    ■光盤
    ■液晶盒
    ■磁帶基膜
    ■收縮膜
    ■其他通用膜
    應用: ■研究和光學功能膜的開發,質量控制
    ■拉伸膜(三維折射率,表面取向)的取向評價
    ■包裝膜的熱收縮,抗撕裂性的評價等
    ■液晶單元,所述波長分散性的評價的扭曲角
    ■光學元件的透射橢圓偏振光的評價
    設備名稱 相位差/橢圓
    測量裝置
    橢圓偏振測量裝置 相位差測量裝置 帶有進樣
    器的相位差測量裝置
    KOBRA-WR KOBRA-WR KOBRA-WR
    設備類型 KOBRA-HB系列  KOBRA-WPR KOBRA-WR KOBRA-WFD




    測量方法

    平行尼科爾旋轉方法
    旋轉偏振器法
    平行尼科爾光譜法

    平行尼科爾旋轉法
    旋轉式偏振片法
    平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法
    測量波長 450,500,550,590,630,680nm 400-800nm 
    (光譜學)
    450,500,550,590,630,750nm
    樣本大小 垂直入射角測定:30mm見方以上
    入射角依存性:30mm?40×50mm,t 3以下
    輪廓測量:
    寬度50mm×長度可選
    入射角依賴性:
    30mm至40 ×50mm ,
    t 3或更小
    測量區域
    33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)
    φ0.8mm(光譜學)
    33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)
    軟件名稱   KOBRA-RE 
    KOBRA-PR 
    KOBRA-TW
    KOBRA-RE KOBRA - DSP / FD 
    KOBRA - RE
    測量項目   面內延遲測量
    入射角依賴
    波長色散特性
    橢圓偏振測量
    扭曲角測量
    測試模式
    面內延遲測量
    入射角依賴
    波長色散特性
    相位剖面
    入射角依賴
    波長色散特性
    設備名稱 用于長樣本的相位差測量裝置
    相位差測量裝置的偏光板
    在線相位差計 在線相位差計
    kobra-wx 100 kobra-wx 100

    KOBRA-311S

    KOBRA-WR
    設備類型 KOBRA-WX *** 系列 KOBRA-WX *** / IR 
    系列
    KOBRA-WI系列  KOBRA-WIS / RT




    測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法
    測量波長 450,550,590,650nm
    850,900,950,1000,1050,1100nm
    590納米
    樣本大小
    取決于樣本階段
     
    測量區域

    33毫米2(5.8毫米角:Jukoko面積)

       
    軟件名稱 KOBRA-DSP / X KOBRA-DSP / XIR  
    測量項目 相位差和方位角
    分布
    PVA基材和碘的延遲譜 相位差 相位差,方位角(Rth)

    設備名稱 微區
    相差測量裝置
     相位差分布測量裝置
    微區
    橢圓計
    一般膠片
    在線相位差計
    kobra-wx 100

    設備類型 KOBRA-CCD KOBRA-IMS SAPA  KOBRA-WI / SPC




    測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法 平行尼科爾光譜學
    測量波長
    590納米
       
    樣本大小    
    測量區域        
    軟件名稱    
    測量項目 相位差分布,取向角分布 相位差分布,取向角分布的輪廓

    相位差

    相位差
    中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

    設備名稱 極化方位測量儀
    雙折射測量裝置
    超高相位差測量裝置 便攜式橢圓偏振
    測量裝置
    設備類型 PAM-P 100 PAM-IMS 100 PAM-UHR 100 PAM-PTB 100




    測量方法   平行尼科爾光譜學 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法
    測量波長
    590納米
     
    樣本大小   透明管,纖維,單軸拉伸膜 □40毫米,3毫米或更少
    測量區域      
    天然發光體如面板
    軟件名稱    
    測量項目 偏振方位角,透射率 相位差 相位差,方向角,雙折射 橢圓,橢圓形方位角
    中國區總代 OSI王子計測 KOBRA-HB  相位差橢圓測量裝置  OSI王子計測

    設備名稱 光軸測量裝置      
         
    設備類型 PAM-PR 300      

    測量方法 旋轉偏振片法
    平行尼科耳旋轉法
    正交尼科耳旋轉法
         
    測量波長
    590nm 
    選項:
    450nm,630nm
     
    樣本大小 □30?250mm 
    20mm厚度以下
       
    測量區域 33 
    平方毫米(5.8平方毫米:光接收器表面)
       
     
    軟件名稱    
    測量項目 偏振軸,方位角,相位差      
    此外,還有專門用于面內相位差測量的KOBRA - WR 0和KOBRA - WPR 0型號,沒有樣品傾角功能。
    此外,KOBRA - WRXY和KOBRA - WPRXY配備了自動XY工作臺(行程200 x 200毫米)在KOBRA - WR和KOBRA - WPR也可用。
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